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Probe Head

최고의 가공기술과 설계를 바탕으로 개발된 Kelvin Probe head는 높은 수명과 최적화된 Kelvin contact으로 고 전류를 필요로 하는 wafer에 대응이 가능합니다. LEENO fine pitch pin 또는 Cobra pin을 적용하여 92um pitch, 30k count이상의 Probe card 를 제공하여 드립니다.

 

Specifications

- Package type

Wafer (WLCSP)

- Pitch

92㎛~

- Testing Characteristics

Kelvin type, Cobra type, RF type

 

Product Series