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반도체 웨이퍼 검사용 프로브카드 개발 업체
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kangdhee@kicl.co.kr
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제품 상세 정보
| Contact Force | 1-2.5 gram/mil |
| Probe Material | Tungsten |
| PCB Size | Customer specified |
| Planarity | 18μm |
| Probe Depth | Customer specified |
| Overdrive | 2~3 mil |
| Operating Temp | -25 ~ 100°C |
| Tip Alignment | ± 12 μm |
| Tip Diameter | 16~22 μm |
| Tip Shape | Sharpe |
