SEMILAB, 헝가리 - 코머신 판매자 소개 및 제품 소개

- SEMILAB은 반도체, 태양광, 디스플레이 산업을 위한 최첨단 계측 솔루션을 제공하는 글로벌 기업으로, 인라인 및 R&D 부문 모두에 걸쳐 다양한 측정 장비를 공급하는 전문 기업. 웨이퍼 제조업체, More-than-Moore 시장의 IC 장치 제조업체, 그리고 태양광 및 디스플레이 산업의 전략적 계측 공급업체로서 전 세계적으로 활동 중인 기업. 혁신적인 연구, 측정 개발, 제품 설계 및 제조부터 구현, 통합 및 유지 관리에 이르기까지 제품 혁신의 전체 R&D 라이프사이클을 포괄하는 역량 보유. 45개 이상의 제품군과 300개 이상의 고유한 제품을 통해 광학 및 전기 측정 기술, 박막 애플리케이션, 자동화 개발 기반의 다양한 솔루션 제공.SEMILAB은 반도체, 태양광, 디스플레이 산업을 위한 최첨단 계측 솔루션을 제공하는 글로벌 기업으로, 인라인 및 R&D 부문 모두에 걸쳐 다양한 측정 장비를 공급하는 전문 기업. 웨이퍼 제조업체, More-than-Moore 시장의 IC 장치 제조업체, 그리고 태양광 및 디스플레이 산업의 전략적 계측 공급업체로서 전 세계적으로 활동 중인 기업. 혁신적인 연구, 측정 개발, 제품 설계 및 제조부터 구현, 통합 및 유지 관리에 이르기까지 제품 혁신의 전체 R&D 라이프사이클을 포괄하는 역량 보유. 45개 이상의 제품군과 300개 이상의 고유한 제품을 통해 광학 및 전기 측정 기술, 박막 애플리케이션, 자동화 개발 기반의 다양한 솔루션 제공.
- 웨이퍼 형상 모니터링 시스템 (WG-2201, WG-2202, WG-2500): 반도체 기판 제조에서 정밀한 치수 분석을 지원하는 솔루션으로, 정전 용량 감지 기술을 활용한 비접촉 측정 방식. 이 시스템은 두께, 휨/뒤틀림, 총 두께 변화(TTV) 및 평탄도 측정을 제공하며, 비접촉 저항 측정 및 박막 응력 특성화 기능도 포함.웨이퍼 형상 모니터링 시스템 (WG-2201, WG-2202, WG-2500): 반도체 기판 제조에서 정밀한 치수 분석을 지원하는 솔루션으로, 정전 용량 감지 기술을 활용한 비접촉 측정 방식. 이 시스템은 두께, 휨/뒤틀림, 총 두께 변화(TTV) 및 평탄도 측정을 제공하며, 비접촉 저항 측정 및 박막 응력 특성화 기능도 포함.
- 분광 타원계 (Spectroscopic Ellipsometer): 박막 두께 및 광학적 특성을 빠르고 정확하게 측정하는 핵심 기술로, 디스플레이 산업의 공정 제어 파라미터 결정에 필수적인 장비. 특히 TOPCon 구조 측정에 적합하며, 100nm 폴리실리콘 및 1.5nm 산화막 분리 후 측정 가능.분광 타원계 (Spectroscopic Ellipsometer): 박막 두께 및 광학적 특성을 빠르고 정확하게 측정하는 핵심 기술로, 디스플레이 산업의 공정 제어 파라미터 결정에 필수적인 장비. 특히 TOPCon 구조 측정에 적합하며, 100nm 폴리실리콘 및 1.5nm 산화막 분리 후 측정 가능.
- 마스크 및 웨이퍼 검사 솔루션: 반도체 제조 공정의 다양한 단계에서 결함 및 불규칙성을 감지하여 최고 수준의 품질과 수율을 보장하는 기술. 광학 및 레이저 스캐닝과 같은 최첨단 기술을 활용하여 정밀하고 정확한 분석 능력 보유.마스크 및 웨이퍼 검사 솔루션: 반도체 제조 공정의 다양한 단계에서 결함 및 불규칙성을 감지하여 최고 수준의 품질과 수율을 보장하는 기술. 광학 및 레이저 스캐닝과 같은 최첨단 기술을 활용하여 정밀하고 정확한 분석 능력 보유.
- 비파괴 전기적 측정 기술 (Non-contact Electrical Metrology): 반도체 소자의 중요한 전기적 특성을 손상 없이 측정하는 선도적인 기술. IC MOS short-loop를 대체하여 비용과 시간을 절약하며, Capacitance-Voltage(C-V) 및 Current-Voltage(I-V) 방법을 통해 유전체 커패시턴스, 전하, 누설 및 항복을 측정하는 솔루션.비파괴 전기적 측정 기술 (Non-contact Electrical Metrology): 반도체 소자의 중요한 전기적 특성을 손상 없이 측정하는 선도적인 기술. IC MOS short-loop를 대체하여 비용과 시간을 절약하며, Capacitance-Voltage(C-V) 및 Current-Voltage(I-V) 방법을 통해 유전체 커패시턴스, 전하, 누설 및 항복을 측정하는 솔루션.
- 스캐닝 프로브 현미경 (Scanning Probe Microscopy, AFM): 실리콘 카바이드 웨이퍼의 표면 거칠기 측정 및 결함, 오염 검사에 사용되는 비접촉, 비파괴 계측 솔루션. 나노미터 범위의 웨이퍼 표면 품질 관리에 필수적인 고정밀 토폴로지, 전기적 및 기계적 정보 획득 능력.스캐닝 프로브 현미경 (Scanning Probe Microscopy, AFM): 실리콘 카바이드 웨이퍼의 표면 거칠기 측정 및 결함, 오염 검사에 사용되는 비접촉, 비파괴 계측 솔루션. 나노미터 범위의 웨이퍼 표면 품질 관리에 필수적인 고정밀 토폴로지, 전기적 및 기계적 정보 획득 능력.
- 평판 디스플레이 테스터 (Flat Panel Tester): 평판 디스플레이 생산 모니터링을 위한 전용 제품 라인으로, 제조 과정 중 대형 기판의 광학적 및 전기적 특성을 평가하는 고급 측정 기능. LTPS(저온 폴리실리콘) 층의 엑시머 레이저 어닐링(ELA) 공정으로 인한 결함 및 불균일성을 식별하는 Line Mura 및 µ-PCR 기술 포함.평판 디스플레이 테스터 (Flat Panel Tester): 평판 디스플레이 생산 모니터링을 위한 전용 제품 라인으로, 제조 과정 중 대형 기판의 광학적 및 전기적 특성을 평가하는 고급 측정 기능. LTPS(저온 폴리실리콘) 층의 엑시머 레이저 어닐링(ELA) 공정으로 인한 결함 및 불균일성을 식별하는 Line Mura 및 µ-PCR 기술 포함.
- 태양광 산업용 인라인 공정 제어 측정 장치: 결정질 실리콘 태양 전지 제조 공정을 제어하기 위한 핸드헬드 프로브, 웨이퍼 분류기, 인라인 광발광 이미징, 면 저항 측정, 반사 방지 코팅 품질 제어 모듈 등 다양한 솔루션.태양광 산업용 인라인 공정 제어 측정 장치: 결정질 실리콘 태양 전지 제조 공정을 제어하기 위한 핸드헬드 프로브, 웨이퍼 분류기, 인라인 광발광 이미징, 면 저항 측정, 반사 방지 코팅 품질 제어 모듈 등 다양한 솔루션.
- 광범위한 기술 포트폴리오: 45개 이상의 제품군과 300개 이상의 고유한 제품을 통해 광학 및 전기 측정 기술, 박막 애플리케이션, 자동화 개발 기반의 다양한 계측 솔루션 제공. 핸드헬드 장치부터 완전 자동화된 생산 제어 시스템까지 다양한 플랫폼 제공 능력.광범위한 기술 포트폴리오: 45개 이상의 제품군과 300개 이상의 고유한 제품을 통해 광학 및 전기 측정 기술, 박막 애플리케이션, 자동화 개발 기반의 다양한 계측 솔루션 제공. 핸드헬드 장치부터 완전 자동화된 생산 제어 시스템까지 다양한 플랫폼 제공 능력.
- 강력한 R&D 역량 및 학술적 배경: 1989년 헝가리 과학 아카데미 연구소의 스핀오프 기업으로 설립된 이래 35년 이상의 경험과 200명 이상의 물리학자, 450명 이상의 엔지니어, 70명 이상의 소프트웨어 개발자 등 1,300명 이상의 글로벌 인력 보유. IBM 및 Applied Materials로부터 이온 주입 모니터링 기술 라이선스 획득, Basler로부터 태양 전지 검사 방법 인수 등 지속적인 기술 통합 및 확장.강력한 R&D 역량 및 학술적 배경: 1989년 헝가리 과학 아카데미 연구소의 스핀오프 기업으로 설립된 이래 35년 이상의 경험과 200명 이상의 물리학자, 450명 이상의 엔지니어, 70명 이상의 소프트웨어 개발자 등 1,300명 이상의 글로벌 인력 보유. IBM 및 Applied Materials로부터 이온 주입 모니터링 기술 라이선스 획득, Basler로부터 태양 전지 검사 방법 인수 등 지속적인 기술 통합 및 확장.
- 비접촉 및 비파괴 측정 기술: 대부분의 측정 기술이 비접촉 및 비파괴 방식으로, 제품 손상 없이 반도체, 평판 디스플레이, 태양 전지 등의 재료 및 공정 특성화를 위한 정밀한 데이터를 제공하는 능력. 이는 생산 비용 절감 및 생산성 향상에 기여.비접촉 및 비파괴 측정 기술: 대부분의 측정 기술이 비접촉 및 비파괴 방식으로, 제품 손상 없이 반도체, 평판 디스플레이, 태양 전지 등의 재료 및 공정 특성화를 위한 정밀한 데이터를 제공하는 능력. 이는 생산 비용 절감 및 생산성 향상에 기여.
- 글로벌 시장 입지 및 서비스 네트워크: 헝가리 부다페스트에 본사를 두며, 미국, 독일, 중국에 R&D 및 제품 센터를 운영. 미국, 일본, 한국, 중국, 대만, 싱가포르 등 주요 시장에 직접 판매 및 서비스 사무소를 운영하며 전 세계 고객 지원 능력.글로벌 시장 입지 및 서비스 네트워크: 헝가리 부다페스트에 본사를 두며, 미국, 독일, 중국에 R&D 및 제품 센터를 운영. 미국, 일본, 한국, 중국, 대만, 싱가포르 등 주요 시장에 직접 판매 및 서비스 사무소를 운영하며 전 세계 고객 지원 능력.
- 산업별 맞춤형 솔루션 제공: 반도체, 태양광, 디스플레이 산업의 특정 요구 사항에 맞춰 인라인 공정 제어 및 R&D 목적의 맞춤형 계측 솔루션을 제공하는 유연성. 특히 태양광 시장에서 실리콘 기반 태양 전지 제조 공정의 프론트엔드 전기적 특성화 분야에서 시장 선도적 위치.산업별 맞춤형 솔루션 제공: 반도체, 태양광, 디스플레이 산업의 특정 요구 사항에 맞춰 인라인 공정 제어 및 R&D 목적의 맞춤형 계측 솔루션을 제공하는 유연성. 특히 태양광 시장에서 실리콘 기반 태양 전지 제조 공정의 프론트엔드 전기적 특성화 분야에서 시장 선도적 위치.
- 지속적인 기술 혁신 및 인수 합병: DLTS, 캐리어 수명 매퍼를 시작으로 전기 및 광학 측정 기술 포트폴리오를 확장. 덴마크 DME, Fischer-Cripps Laboratories, SemiMap, Advanced Metrology Systems (AMS), Semiconductor Diagnostics Inc. (SDI) 등 다양한 기업 인수를 통해 AFM, 나노인덴테이션, 저항 매핑, 3D 구조 특성화, 표면 음파 측정, SPV 측정 등 핵심 계측 솔루션 통합.지속적인 기술 혁신 및 인수 합병: DLTS, 캐리어 수명 매퍼를 시작으로 전기 및 광학 측정 기술 포트폴리오를 확장. 덴마크 DME, Fischer-Cripps Laboratories, SemiMap, Advanced Metrology Systems (AMS), Semiconductor Diagnostics Inc. (SDI) 등 다양한 기업 인수를 통해 AFM, 나노인덴테이션, 저항 매핑, 3D 구조 특성화, 표면 음파 측정, SPV 측정 등 핵심 계측 솔루션 통합.
- 반도체 산업: 웨이퍼 제조업체, IC 장치 제조업체, More-than-Moore 시장 부문의 반도체 장치 제조업체를 위한 인라인 및 R&D 계측 솔루션.반도체 산업: 웨이퍼 제조업체, IC 장치 제조업체, More-than-Moore 시장 부문의 반도체 장치 제조업체를 위한 인라인 및 R&D 계측 솔루션.
- 태양광 산업: 결정질 실리콘 태양 전지 제조 공정의 프론트엔드 전기적 특성화 및 인라인 공정 제어를 위한 계측 장비 공급.태양광 산업: 결정질 실리콘 태양 전지 제조 공정의 프론트엔드 전기적 특성화 및 인라인 공정 제어를 위한 계측 장비 공급.
- 디스플레이 산업: 평판 디스플레이 생산 모니터링, R&D 및 오프라인 품질 관리를 위한 광학적 및 전기적 특성 측정 솔루션.디스플레이 산업: 평판 디스플레이 생산 모니터링, R&D 및 오프라인 품질 관리를 위한 광학적 및 전기적 특성 측정 솔루션.
- 재료 과학 및 생명 과학: 나노기술부터 생체 의학 응용 분야에 이르기까지 R&D를 위한 고정밀 특성화 도구 제공.재료 과학 및 생명 과학: 나노기술부터 생체 의학 응용 분야에 이르기까지 R&D를 위한 고정밀 특성화 도구 제공.
- 연구 개발 (R&D): 반도체, 태양광, 평판 디스플레이 산업, 박막 연구 및 재료 과학 분야의 맞춤형 R&D 솔루션 및 실험실 도구 제공.연구 개발 (R&D): 반도체, 태양광, 평판 디스플레이 산업, 박막 연구 및 재료 과학 분야의 맞춤형 R&D 솔루션 및 실험실 도구 제공.
- 대한민국, 일본, 중국, 대만, 싱가포르대한민국, 일본, 중국, 대만, 싱가포르
- 헝가리 (본사), 독일헝가리 (본사), 독일
- 미국미국
- ISO 9001:2015 인증: 반도체 및 태양광 산업에 사용되는 재료 및 공정 특성화 계측 장비의 개발, 제조 및 판매, 소프트웨어 개발 및 테스트에 대한 품질 경영 시스템 인증.ISO 9001:2015 인증: 반도체 및 태양광 산업에 사용되는 재료 및 공정 특성화 계측 장비의 개발, 제조 및 판매, 소프트웨어 개발 및 테스트에 대한 품질 경영 시스템 인증.
- 400개 이상의 특허 보유: 재료 과학 분야에서 400개 이상의 자체 특허를 보유하며, 310개 이상의 과학 저널 출판물을 통해 기술력을 입증.400개 이상의 특허 보유: 재료 과학 분야에서 400개 이상의 자체 특허를 보유하며, 310개 이상의 과학 저널 출판물을 통해 기술력을 입증.