(주)피엠티는 2004년 창립 이후 MEMS 기술 기반의 차세대 반도체 검사용 프로브 카드를 개발 및 양산하는 MEMS 전문 기업. 메모리 및 비메모리 반도체 테스트 솔루션을 제공하며, RF 및 고속 인터페이스, HBM, AI 등 첨단 반도체 시장에 대응하는 기술 역량 보유. 반도체 검사장치 제조 및 판매를 주된 사업 목적으로 하는 중소기업.(주)피엠티는2004년창립이후MEMS기술기반의차세대반도체검사용프로브카드를개발및양산하는MEMS전문기업.메모리및비메모리반도체테스트솔루션을제공하며,RF및고속인터페이스,HBM,AI등첨단반도체시장에대응하는기술역량보유.반도체검사장치제조및판매를주된사업목적으로하는중소기업.
대표 제품군/보유 기술대표제품군/보유기술
주요 제품군은 Memory Probe Card와 Non-Memory Probe Card.주요제품군은MemoryProbeCard와Non-MemoryProbeCard.
MEMS Application 분야에서는 FGBA Chipset, Application Processor, 3D Modeling 관련 기술 제공.MEMSApplication분야에서는FGBAChipset,ApplicationProcessor,3DModeling관련기술제공.
IoT(M2M) 응용 모델을 위한 MEMS Socket 솔루션 개발 및 공급.IoT(M2M)응용모델을위한MEMSSocket솔루션개발및공급.
독자적인 MEMS 공정 기술을 기반으로 2D 및 3D MEMS 프로브 카드를 제조하는 핵심 역량 보유.독자적인MEMS공정기술을기반으로2D및3DMEMS프로브카드를제조하는핵심역량보유.
RF 고속신호 대응 회로 설계 및 초정밀 미세공정 기술 확보.RF고속신호대응회로설계및초정밀미세공정기술확보.
Fan-out 테스트 기판의 CMP 기술을 50μm 이하 수준으로 미세화하는 고도화된 기술력 보유.Fan-out테스트기판의CMP기술을50μm이하수준으로미세화하는고도화된기술력보유.
EVG사의 마스크리스(Mask-less) 노광장비를 도입하여 변형 없는 Fine Pitch 구조를 형성하는 핵심 공정 기술 구축.EVG사의마스크리스(Mask-less)노광장비를도입하여변형없는FinePitch구조를형성하는핵심공정기술구축.
경쟁 우위 포인트경쟁우위포인트
MEMS 기술 기반의 차세대 프로브 카드 개발 및 양산에 대한 독보적인 기술력.MEMS기술기반의차세대프로브카드개발및양산에대한독보적인기술력.
RF 및 고속 인터페이스용 테스트 솔루션, HBM, AI 등 차세대 반도체 대응 기술에 대한 지속적인 투자와 사업 포트폴리오 전환 노력.RF및고속인터페이스용테스트솔루션,HBM,AI등차세대반도체대응기술에대한지속적인투자와사업포트폴리오전환노력.
전체 인력의 약 15%를 연구개발 인력으로 구성하고, 최근 3년간 평균 R&D 투자 비율이 최고 20%에 달하는 높은 연구개발 집중도.전체인력의약15%를연구개발인력으로구성하고,최근3년간평균R&D투자비율이최고20%에달하는높은연구개발집중도.
사내 설계 및 테스트 분석 조직과 자체 MEMS 공정 라인을 통한 기술 내재화 및 품질 관리 능력.사내설계및테스트분석조직과자체MEMS공정라인을통한기술내재화및품질관리능력.
삼성전자 최우수공헌상(2017, 2018, 2021), 혁신우수협력사(2014, 2022) 등 주요 고객사로부터 다수의 수상 이력.삼성전자최우수공헌상(2017,2018,2021),혁신우수협력사(2014,2022)등주요고객사로부터다수의수상이력.
천만불 수출의 탑(2021) 수상을 통한 해외 시장 개척 및 수출 증대 기여.천만불수출의탑(2021)수상을통한해외시장개척및수출증대기여.
"RF Probe Card용 3D MEMS Build-up 제조 기술"에 대한 신기술(NET) 인증(2023) 획득으로 기술 우수성 공식 인정."RFProbeCard용3DMEMSBuild-up제조기술"에대한신기술(NET)인증(2023)획득으로기술우수성공식인정.
독자적인 MEMS 공정 기술력으로 극 초소형화 기술에 대한 대응 능력.독자적인MEMS공정기술력으로극초소형화기술에대한대응능력.
국내외 다수의 프로브 카드 및 테스트 소켓 관련 특허 보유.국내외다수의프로브카드및테스트소켓관련특허보유.
주요 특허로는 프로브카드의 지지 어셈블리, 다단구조 접촉팁이 형성된 프로브 시트 및 그 제조방법, 셀프 얼라인 버티컬 프로브 카드의 컨택터 블록 및 그 제조방법, 반도체소자 테스트소켓 등이 있음.주요특허로는프로브카드의지지어셈블리,다단구조접촉팁이형성된프로브시트및그제조방법,셀프얼라인버티컬프로브카드의컨택터블록및그제조방법,반도체소자테스트소켓등이있음.