메트릭스 테크놀로지, 미국 - 코머신 판매자 소개 및 제품 소개

- 반도체 및 마이크로전자 장치 설계 및 품질 보증을 위한 데이터 수집 및 분석 소프트웨어 개발 기업반도체 및 마이크로전자 장치 설계 및 품질 보증을 위한 데이터 수집 및 분석 소프트웨어 개발 기업
- Metrics Technology의 주요 제품군은 반도체 테스트, 장비 제어 및 데이터 수집을 위한 전문 소프트웨어 솔루션으로 구성Metrics Technology의 주요 제품군은 반도체 테스트, 장비 제어 및 데이터 수집을 위한 전문 소프트웨어 솔루션으로 구성
- Metrics ICS는 Agilent/Keysight 4145, 4156, B1500A, B1505A, E5270A 파라미터 분석기 및 Keithley 2657A HV 소스 측정 장치 등 다양한 반도체 테스트 및 측정 장비 제어 기능 제공Metrics ICS는 Agilent/Keysight 4145, 4156, B1500A, B1505A, E5270A 파라미터 분석기 및 Keithley 2657A HV 소스 측정 장치 등 다양한 반도체 테스트 및 측정 장비 제어 기능 제공
- 이 소프트웨어는 사용자 프로그래밍 없이 Microsoft Windows 그래픽 사용자 인터페이스를 통한 복잡한 장비의 쉬운 설정 지원이 소프트웨어는 사용자 프로그래밍 없이 Microsoft Windows 그래픽 사용자 인터페이스를 통한 복잡한 장비의 쉬운 설정 지원
- Metrics ICV는 반도체 파라미터 분석기, C-V 미터, 저누설 스위치 매트릭스 및 자동/반자동 프로브 스테이션 지원을 위한 I-V, C-V 특성 자동화 소프트웨어Metrics ICV는 반도체 파라미터 분석기, C-V 미터, 저누설 스위치 매트릭스 및 자동/반자동 프로브 스테이션 지원을 위한 I-V, C-V 특성 자동화 소프트웨어
- Metrics IDE는 ICV와 연동되는 개발 환경 제공Metrics IDE는 ICV와 연동되는 개발 환경 제공
- 보유 기술로는 장치 특성화, JEDEC 표준 기반 웨이퍼 레벨 신뢰성(WLR) 알고리즘, 반도체 부품 및 마이크로전자 장치의 고장 원인 분석을 위한 고장 분석 기능 포함보유 기술로는 장치 특성화, JEDEC 표준 기반 웨이퍼 레벨 신뢰성(WLR) 알고리즘, 반도체 부품 및 마이크로전자 장치의 고장 원인 분석을 위한 고장 분석 기능 포함
- 최신 Windows 운영 체제 호환성 및 노드 고정 라이선스 지원, 최대 100개 벡터와 10001개 포인트의 확장된 데이터 보기, MS Excel과의 자동 동기화 기능 제공최신 Windows 운영 체제 호환성 및 노드 고정 라이선스 지원, 최대 100개 벡터와 10001개 포인트의 확장된 데이터 보기, MS Excel과의 자동 동기화 기능 제공
- 사용자 친화적인 Microsoft Windows 기반 그래픽 사용자 인터페이스를 통한 복잡한 장비의 간편한 설정 능력사용자 친화적인 Microsoft Windows 기반 그래픽 사용자 인터페이스를 통한 복잡한 장비의 간편한 설정 능력
- 반도체 및 마이크로전자 장치 테스트, 특성화, 분석에 특화된 전문성반도체 및 마이크로전자 장치 테스트, 특성화, 분석에 특화된 전문성
- 장비 제어, 데이터 수집, 수치 분석, 장치 특성화, 웨이퍼 레벨 신뢰성, 고장 분석을 포괄하는 통합 소프트웨어 솔루션 제공장비 제어, 데이터 수집, 수치 분석, 장치 특성화, 웨이퍼 레벨 신뢰성, 고장 분석을 포괄하는 통합 소프트웨어 솔루션 제공
- Agilent, Keysight, Keithley, MPI, SemiProbe 등 업계 표준 테스트 및 측정 장비와의 광범위한 호환성Agilent, Keysight, Keithley, MPI, SemiProbe 등 업계 표준 테스트 및 측정 장비와의 광범위한 호환성
- 25년 이상의 업력과 전 세계 수천 개의 고객사를 통한 시장 내 검증된 신뢰성 및 광범위한 고객 기반25년 이상의 업력과 전 세계 수천 개의 고객사를 통한 시장 내 검증된 신뢰성 및 광범위한 고객 기반
- 최대 100개 벡터 및 10001개 포인트의 대규모 데이터 세트 처리 능력과 MS Excel 자동 동기화 기능 등 고급 데이터 처리 및 분석 기능최대 100개 벡터 및 10001개 포인트의 대규모 데이터 세트 처리 능력과 MS Excel 자동 동기화 기능 등 고급 데이터 처리 및 분석 기능
- JEDEC 표준 기반의 웨이퍼 레벨 신뢰성 알고리즘을 통한 신속한 신뢰성 프로그램 구축 및 고장 원인 분석 지원 능력JEDEC 표준 기반의 웨이퍼 레벨 신뢰성 알고리즘을 통한 신속한 신뢰성 프로그램 구축 및 고장 원인 분석 지원 능력
- 지속적인 소프트웨어 업데이트를 통한 최신 운영체제 지원 및 보안 강화 노력지속적인 소프트웨어 업데이트를 통한 최신 운영체제 지원 및 보안 강화 노력
- 반도체 제조 산업반도체 제조 산업
- 마이크로전자 장치 설계 및 품질 보증 분야마이크로전자 장치 설계 및 품질 보증 분야
- 연구소 및 대학 연구 분야연구소 및 대학 연구 분야
- 상업용 전자제품 제조 산업상업용 전자제품 제조 산업
- 분석 실험실분석 실험실
- 미국미국
- 공식적인 특허 또는 인증 내역은 명시되지 않음공식적인 특허 또는 인증 내역은 명시되지 않음
- JEDEC 산업 표준 기반의 웨이퍼 레벨 신뢰성(WLR) 테스트 방법 지원을 통한 기술적 신뢰성 확보JEDEC 산업 표준 기반의 웨이퍼 레벨 신뢰성(WLR) 테스트 방법 지원을 통한 기술적 신뢰성 확보
- 반도체 계측 및 특성화 분야의 전문 소프트웨어 개발 역량반도체 계측 및 특성화 분야의 전문 소프트웨어 개발 역량
- 고객사의 반도체 및 마이크로전자 장치 설계 및 품질 보증 프로세스 최적화 기여 능력고객사의 반도체 및 마이크로전자 장치 설계 및 품질 보증 프로세스 최적화 기여 능력