기업 기본 정보
설립일자
2000-11-01
업종
반도체 제조용 기계 제조업
운영여부
운영중
업데이트
2026-04-08
기업 개요
- 한줄 요약
- 입자 오염 문제의 측정부터 해결까지 책임지는 오염제어 전문 기업으로, 파티클 카운터, 이물 및 파티클 진단, 개선 컨설팅, 그리고 관련 소프트웨어 개발을 주요 사업 영역으로 하는 기업입자 오염 문제의 측정부터 해결까지 책임지는 오염제어 전문 기업으로, 파티클 카운터, 이물 및 파티클 진단, 개선 컨설팅, 그리고 관련 소프트웨어 개발을 주요 사업 영역으로 하는 기업
- 대표 제품군/보유 기술
- 다양한 표면 입자 계수기 제품군으로, S300 시리즈, S5 시리즈, SA (Auto Scan, Smart Counting), SPro (Auto focus, fast scan), SMD Portable, S3 시리즈, SPOL2, 그리고 액체 및 기체용 SMF5 모델 보유다양한 표면 입자 계수기 제품군으로, S300 시리즈, S5 시리즈, SA (Auto Scan, Smart Counting), SPro (Auto focus, fast scan), SMD Portable, S3 시리즈, SPOL2, 그리고 액체 및 기체용 SMF5 모델 보유
- 반도체 장비 부품의 청정도 및 파티클 검사 시스템인 M7000/M1000R25(new) 모델을 제공하며, 샤워 헤드, 전극, ESC, 척, 로봇 암, 포커스 링, 클린룸 와이퍼, FOUP 등 다양한 부품 검사 능력반도체 장비 부품의 청정도 및 파티클 검사 시스템인 M7000/M1000R25(new) 모델을 제공하며, 샤워 헤드, 전극, ESC, 척, 로봇 암, 포커스 링, 클린룸 와이퍼, FOUP 등 다양한 부품 검사 능력
- 나노급 초미세 공정에 대응하는 M802ESC 검사 시스템은 대형 및 고중량 부품 검사가 가능하며, 기본 0.1µm 이상, 옵션 적용 시 10nm 극초미세 파티클까지 계수하는 기술력나노급 초미세 공정에 대응하는 M802ESC 검사 시스템은 대형 및 고중량 부품 검사가 가능하며, 기본 0.1µm 이상, 옵션 적용 시 10nm 극초미세 파티클까지 계수하는 기술력
- SG20 Film Particle Counting System은 스마트폰 디스플레이용 OCA 필름, 커버 글라스, 편광 필름 등 다층 필름의 각 층에 존재하는 입자를 검출하고 계수하며, 특정 층의 입자 위치를 파악하는 기술SG20 Film Particle Counting System은 스마트폰 디스플레이용 OCA 필름, 커버 글라스, 편광 필름 등 다층 필름의 각 층에 존재하는 입자를 검출하고 계수하며, 특정 층의 입자 위치를 파악하는 기술
- 투명 또는 반투명 필름의 표면 이물 검출을 위한 특허받은 투과형 검출기 기술과 광산란 및 이미지 분석을 결합한 하이브리드 검출 방식을 보유한 기업투명 또는 반투명 필름의 표면 이물 검출을 위한 특허받은 투과형 검출기 기술과 광산란 및 이미지 분석을 결합한 하이브리드 검출 방식을 보유한 기업
- 국내 유일의 독립적인 이물/Particle 실험실인 'Particle House'를 운영하며, 청정용품 평가장치, 반도체 제조장비용 부품 파티클 검사 및 클리닝 장치, 이물 추출용 시험 재료 개발 및 공급국내 유일의 독립적인 이물/Particle 실험실인 'Particle House'를 운영하며, 청정용품 평가장치, 반도체 제조장비용 부품 파티클 검사 및 클리닝 장치, 이물 추출용 시험 재료 개발 및 공급
- 경쟁 우위 포인트
- 입자 오염 문제에 대한 측정부터 해결까지 전 과정을 책임지는 오염제어 전문 기업으로서, 컨설팅을 기반으로 한 토탈 솔루션 제공 능력입자 오염 문제에 대한 측정부터 해결까지 전 과정을 책임지는 오염제어 전문 기업으로서, 컨설팅을 기반으로 한 토탈 솔루션 제공 능력
- 반도체 및 디스플레이 관련 산업에서 20년 이상 축적된 오염제어 노하우를 바탕으로 전문화된 장치와 서비스를 제공하는 역량반도체 및 디스플레이 관련 산업에서 20년 이상 축적된 오염제어 노하우를 바탕으로 전문화된 장치와 서비스를 제공하는 역량
- 투명 및 반투명 유리 또는 필름의 표면이나 내부층에 존재하는 입자를 탁월하게 검출하는 특허받은 투과형 검출기 기술 보유투명 및 반투명 유리 또는 필름의 표면이나 내부층에 존재하는 입자를 탁월하게 검출하는 특허받은 투과형 검출기 기술 보유
- 광산란과 이미지 분석을 결합한 특허받은 하이브리드 검출 방식을 통해 기존 장비 대비 더 넓은 영역을 짧은 시간에 검사하여 높은 생산성을 달성하는 기술광산란과 이미지 분석을 결합한 특허받은 하이브리드 검출 방식을 통해 기존 장비 대비 더 넓은 영역을 짧은 시간에 검사하여 높은 생산성을 달성하는 기술
- 나노급 초미세 공정 대응을 위한 M802ESC와 같은 차세대 검사 장비를 지속적으로 개발하여, 기존 방식으로는 어려웠던 대형 및 고중량 부품의 정량적 평가를 가능하게 하는 기술적 우위나노급 초미세 공정 대응을 위한 M802ESC와 같은 차세대 검사 장비를 지속적으로 개발하여, 기존 방식으로는 어려웠던 대형 및 고중량 부품의 정량적 평가를 가능하게 하는 기술적 우위
- NIST 표준 입자에 의한 검증 및 교정을 통해 장비의 높은 검출 성능과 신뢰성을 확보하는 품질 관리 시스템NIST 표준 입자에 의한 검증 및 교정을 통해 장비의 높은 검출 성능과 신뢰성을 확보하는 품질 관리 시스템
- 국내 기업들에게 생소했던 표면 청정도 관리 개념을 도입하고, 파티클 채집 필름 및 표면 입자 계수기 개발을 통해 제품 불량 감소에 기여하는 선도적 역할국내 기업들에게 생소했던 표면 청정도 관리 개념을 도입하고, 파티클 채집 필름 및 표면 입자 계수기 개발을 통해 제품 불량 감소에 기여하는 선도적 역할
- 연구실부터 양산 공정까지 다양한 현장에서 신뢰할 수 있는 고성능 장비와 재료, 정확하고 효율적인 시험 솔루션을 제공하는 종합적인 역량연구실부터 양산 공정까지 다양한 현장에서 신뢰할 수 있는 고성능 장비와 재료, 정확하고 효율적인 시험 솔루션을 제공하는 종합적인 역량
- 적용 산업
- 반도체 산업 (Semiconductor)반도체 산업 (Semiconductor)
- 디스플레이 산업 (Display)디스플레이 산업 (Display)
- 배터리 산업 (Battery Industry)배터리 산업 (Battery Industry)
- 클린룸 제어 및 관리 (Cleanroom Control and Management)클린룸 제어 및 관리 (Cleanroom Control and Management)
- 광학 및 카메라 모듈 (Optics/Camera Modules)광학 및 카메라 모듈 (Optics/Camera Modules)
- PCB (Particles on PCBs)PCB (Particles on PCBs)
- 연구소, IQC, OQC (Research, Labs, IQC, OQC)연구소, IQC, OQC (Research, Labs, IQC, OQC)
- 자동차 산업 (VDA19, ISO16232 표준 준수)자동차 산업 (VDA19, ISO16232 표준 준수)
- 주요 시장
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- 인증/특허
- 미국 특허 번호 US11002685: 투명 또는 반투명 필름용 표면 이물 검출기 (Surface foreign substance detector for transparent or translucent film)미국 특허 번호 US11002685: 투명 또는 반투명 필름용 표면 이물 검출기 (Surface foreign substance detector for transparent or translucent film)
- 미국 특허 번호 USD838609: 시험 필름의 입자 검출 장치 (Apparatus for detecting particle on test film)미국 특허 번호 USD838609: 시험 필름의 입자 검출 장치 (Apparatus for detecting particle on test film)
- 미국 특허 번호 US9964480: 클린룸 내 표면 입자 검출용 시험 필름 (Test film for detecting surface particles in clean room)미국 특허 번호 US9964480: 클린룸 내 표면 입자 검출용 시험 필름 (Test film for detecting surface particles in clean room)
- 투과형 검출기 및 하이브리드 검출 방식에 대한 특허 기술 보유투과형 검출기 및 하이브리드 검출 방식에 대한 특허 기술 보유
- NIST 표준 입자에 의한 장비 검증 및 교정 완료NIST 표준 입자에 의한 장비 검증 및 교정 완료
기업 소개
기업 위치
경기도 용인시 기흥구 흥덕1로 13, 흥덕 IT밸리 타워동 (A동) 1612 호