EDAX는 에너지 분산 X선 분광법(EDS), 전자 후방 산란 회절법(EBSD), 파장 분산 X선 분광법(WDS) 및 X선 형광법(XRF) 시스템 분야의 글로벌 리더 기업. 이 기업은 재료 특성 분석을 위한 혁신적인 솔루션을 제공하며, 최근 Gatan과의 합병을 통해 투과 전자 현미경(TEM) 및 주사 전자 현미경(SEM)을 위한 통합 도구 세트를 구축. 정밀한 원소 및 구조 분석을 위한 마이크로 및 나노 특성 분석 시스템 개발에 주력하는 기업.EDAX는에너지분산X선분광법(EDS),전자후방산란회절법(EBSD),파장분산X선분광법(WDS)및X선형광법(XRF)시스템분야의글로벌리더기업.이기업은재료특성분석을위한혁신적인솔루션을제공하며,최근Gatan과의합병을통해투과전자현미경(TEM)및주사전자현미경(SEM)을위한통합도구세트를구축.정밀한원소및구조분석을위한마이크로및나노특성분석시스템개발에주력하는기업.
대표 제품군/보유 기술대표제품군/보유기술
**에너지 분산 X선 분광법(EDS) 시스템**: Octane Elite 시리즈는 Octane Elite Plus(30 mm² 칩), Octane Elite Super(70 mm² 칩), Octane Elite Ultra(160 mm² 윈도우리스 검출기) 모델을 포함. 실리콘 질화물(Si3N4) 윈도우를 통해 경원소 감도 및 저전압 미세 분석 성능을 크게 향상. 고속 X선 데이터 처리 기술과 전동 슬라이드를 특징으로 하며, 최대 400,000 cps 이상의 출력 속도로 고해상도 정량 분석 가능. Elite T EDS 시스템은 (S)TEM 애플리케이션에 최적화된 직관적인 인터페이스와 데이터 통합 기능을 제공하며, Elite T Super(70 mm² 칩) 및 Elite T Ultra(160 mm² 칩) 모델을 보유.**에너지분산X선분광법(EDS)시스템**:OctaneElite시리즈는OctaneElitePlus(30mm²칩),OctaneEliteSuper(70mm²칩),OctaneEliteUltra(160mm²윈도우리스검출기)모델을포함.실리콘질화물(Si3N4)윈도우를통해경원소감도및저전압미세분석성능을크게향상.고속X선데이터처리기술과전동슬라이드를특징으로하며,최대400,000cps이상의출력속도로고해상도정량분석가능.EliteTEDS시스템은(S)TEM애플리케이션에최적화된직관적인인터페이스와데이터통합기능을제공하며,EliteTSuper(70mm²칩)및EliteTUltra(160mm²칩)모델을보유.
**전자 후방 산란 회절법(EBSD) 시스템**: Clarity EBSD Detector 시리즈는 Clarity Plus(~7 kV까지 효율적인 수집) 및 Clarity Super(3 kV까지 최적화된 성능) 모델로 구성. 세계 최초의 상용 직접 검출 EBSD 검출기로, 단일 전자 검출 감도와 제로 판독 노이즈를 통해 탁월한 패턴 품질과 감도를 제공. Velocity EBSD Camera 시리즈는 고속 데이터 수집 및 고감도, 저노이즈 CMOS 이미징 센서가 특징. OIM Analysis 소프트웨어는 EBSD 데이터 분석 및 시각화를 위한 강력한 도구.**전자후방산란회절법(EBSD)시스템**:ClarityEBSDDetector시리즈는ClarityPlus(~7kV까지효율적인수집)및ClaritySuper(3kV까지최적화된성능)모델로구성.세계최초의상용직접검출EBSD검출기로,단일전자검출감도와제로판독노이즈를통해탁월한패턴품질과감도를제공.VelocityEBSDCamera시리즈는고속데이터수집및고감도,저노이즈CMOS이미징센서가특징.OIMAnalysis소프트웨어는EBSD데이터분석및시각화를위한강력한도구.
**파장 분산 X선 분광법(WDS) 시스템**: Lambda WDS Analysis System은 EDS 분석을 보완하며, 특히 경원소 분석이나 원소 중첩 문제가 발생하는 경우에 유용.**파장분산X선분광법(WDS)시스템**:LambdaWDSAnalysisSystem은EDS분석을보완하며,특히경원소분석이나원소중첩문제가발생하는경우에유용.
**마이크로 X선 형광법(Micro-XRF) 시스템**: Orbis 및 Orbis II Micro-XRF 시스템은 Orbis II Plus(30 mm² X선 검출기) 및 Orbis II Super(70 mm² X선 검출기) 모델을 포함. 특허받은 전동 터렛을 통해 비디오 및 X선 광학을 통합하여 동축 샘플 뷰 및 X선 분석을 제공하며, 다양한 스팟 크기와 1mm 및 2mm 콜리메이터 사용 가능. 비파괴 측정 및 최소한의 샘플 준비로 다양한 샘플 유형 분석에 적합.**마이크로X선형광법(Micro-XRF)시스템**:Orbis및OrbisIIMicro-XRF시스템은OrbisIIPlus(30mm²X선검출기)및OrbisIISuper(70mm²X선검출기)모델을포함.특허받은전동터렛을통해비디오및X선광학을통합하여동축샘플뷰및X선분석을제공하며,다양한스팟크기와1mm및2mm콜리메이터사용가능.비파괴측정및최소한의샘플준비로다양한샘플유형분석에적합.
**통합 기술 시스템**: Pegasus (EDS-EBSD) 시스템은 원소 조성 및 결정학적 방향 데이터를 단일 패키지로 제공하며, APEX 소프트웨어를 통해 EDS와 EBSD 데이터를 동시에 수집. Neptune (EDS-WDS) 시스템과 Trident (EDS-EBSD-WDS) 시스템은 EDS, EBSD, WDS를 통합하여 재료 특성 분석의 포괄적인 솔루션 제공. Cipher 시스템은 SEM에서 리튬의 정량적 분포를 밝히는 최초이자 유일한 시스템.**통합기술시스템**:Pegasus(EDS-EBSD)시스템은원소조성및결정학적방향데이터를단일패키지로제공하며,APEX소프트웨어를통해EDS와EBSD데이터를동시에수집.Neptune(EDS-WDS)시스템과Trident(EDS-EBSD-WDS)시스템은EDS,EBSD,WDS를통합하여재료특성분석의포괄적인솔루션제공.Cipher시스템은SEM에서리튬의정량적분포를밝히는최초이자유일한시스템.
경쟁 우위 포인트경쟁우위포인트
**선도적인 기술 혁신 역량**: 에너지 분산 X선 분광법(EDS), 전자 후방 산란 회절법(EBSD), 파장 분산 X선 분광법(WDS), 마이크로 X선 형광법(Micro-XRF) 분야에서 지속적인 기술 리더십을 유지. 특히 실리콘 질화물(Si3N4) 윈도우를 적용한 EDS 검출기, 직접 검출 EBSD 기술(Clarity), 윈도우리스 EDS 검출기(Octane Elite Ultra) 등은 업계 최고 수준의 성능과 감도를 제공하는 혁신 기술.**선도적인기술혁신역량**:에너지분산X선분광법(EDS),전자후방산란회절법(EBSD),파장분산X선분광법(WDS),마이크로X선형광법(Micro-XRF)분야에서지속적인기술리더십을유지.특히실리콘질화물(Si3N4)윈도우를적용한EDS검출기,직접검출EBSD기술(Clarity),윈도우리스EDS검출기(OctaneEliteUltra)등은업계최고수준의성능과감도를제공하는혁신기술.
**포괄적인 통합 분석 솔루션**: EDS, EBSD, WDS 기술을 단일 시스템(예: Pegasus, Neptune, Trident)으로 통합하여 재료의 원소 조성, 결정 구조, 물리적 특성 간의 직접적인 상관관계를 동시에 분석하는 능력. 이러한 통합 솔루션은 복잡한 재료 특성 분석 문제를 효율적으로 해결하며, 사용자에게 심층적인 재료 이해를 제공.**포괄적인통합분석솔루션**:EDS,EBSD,WDS기술을단일시스템(예:Pegasus,Neptune,Trident)으로통합하여재료의원소조성,결정구조,물리적특성간의직접적인상관관계를동시에분석하는능력.이러한통합솔루션은복잡한재료특성분석문제를효율적으로해결하며,사용자에게심층적인재료이해를제공.
**Gatan과의 전략적 합병 시너지**: Gatan과의 합병을 통해 투과 전자 현미경(TEM) 및 주사 전자 현미경(SEM) 분야의 궁극적인 도구 세트를 제공하며, 제품 포트폴리오의 시너지를 극대화. 특히 Cipher 시스템을 통해 SEM에서 리튬의 정량적 매핑을 가능하게 하는 등, 이전에는 불가능했던 새로운 연구 역량을 창출.**Gatan과의전략적합병시너지**:Gatan과의합병을통해투과전자현미경(TEM)및주사전자현미경(SEM)분야의궁극적인도구세트를제공하며,제품포트폴리오의시너지를극대화.특히Cipher시스템을통해SEM에서리튬의정량적매핑을가능하게하는등,이전에는불가능했던새로운연구역량을창출.
**다양한 산업 분야에 대한 광범위한 적용**: 반도체, 미세전자공학, 금속, 지질학, 생물학, 재료 과학, 세라믹, 재생 에너지, 제약, 법의학 등 광범위한 산업 및 연구 시장에 필수적인 재료 특성 분석 솔루션을 제공. 이는 다양한 고객의 요구를 충족시키는 다각적인 사업 구조를 의미.**다양한산업분야에대한광범위한적용**:반도체,미세전자공학,금속,지질학,생물학,재료과학,세라믹,재생에너지,제약,법의학등광범위한산업및연구시장에필수적인재료특성분석솔루션을제공.이는다양한고객의요구를충족시키는다각적인사업구조를의미.
**글로벌 고객 지원 및 전문 교육 프로그램**: 전 세계에 걸쳐 영업, 서비스 및 애플리케이션 지원 사무소를 운영하며, 고객에게 최상의 기술 지원을 제공. EDS, EBSD, WDS, Micro-XRF에 대한 포괄적인 교육 프로그램을 통해 고객의 장비 활용 능력 향상 및 고급 애플리케이션 숙달을 지원.**글로벌고객지원및전문교육프로그램**:전세계에걸쳐영업,서비스및애플리케이션지원사무소를운영하며,고객에게최상의기술지원을제공.EDS,EBSD,WDS,Micro-XRF에대한포괄적인교육프로그램을통해고객의장비활용능력향상및고급애플리케이션숙달을지원.
**고품질 및 신뢰성 보장**: ISO 9001 인증을 통해 제품의 설계, 제조, 설치 및 서비스 전반에 걸쳐 엄격한 품질 표준을 준수. 이는 고객에게 신뢰할 수 있는 고품질 제품과 분석 결과를 보장하는 요소.**고품질및신뢰성보장**:ISO9001인증을통해제품의설계,제조,설치및서비스전반에걸쳐엄격한품질표준을준수.이는고객에게신뢰할수있는고품질제품과분석결과를보장하는요소.
적용 산업적용산업
반도체 및 미세전자공학 산업: 웨이퍼 분석, 결함 검사, 재료 특성 분석.반도체및미세전자공학산업:웨이퍼분석,결함검사,재료특성분석.
금속 및 야금 산업: 합금 개발, 재료 결함 분석, 결정 구조 연구.금속및야금산업:합금개발,재료결함분석,결정구조연구.
지질학 및 광물학: 광물 조성 분석, 지질 샘플 특성 분석.지질학및광물학:광물조성분석,지질샘플특성분석.
생물학 및 생체 재료 과학: 생체 샘플의 원소 분포 및 구조 분석.생물학및생체재료과학:생체샘플의원소분포및구조분석.
재료 과학 및 세라믹: 신소재 개발, 재료 물성 평가, 세라믹 재료 분석.재료과학및세라믹:신소재개발,재료물성평가,세라믹재료분석.
학술 및 산업 R&D 연구소: 첨단 연구 및 개발 활동 지원.학술및산업R&D연구소:첨단연구및개발활동지원.
재생 에너지 산업: 태양 전지, 배터리 재료 분석, 리튬 이온 배터리 연구.재생에너지산업:태양전지,배터리재료분석,리튬이온배터리연구.
제약 산업: 의약품 성분 분석, 품질 관리.제약산업:의약품성분분석,품질관리.
법의학: 증거물 분석, 미세 흔적 검사.법의학:증거물분석,미세흔적검사.
석유화학 산업: 촉매 분석, 재료 특성 평가.석유화학산업:촉매분석,재료특성평가.
주요 시장주요시장
일본, 중국, 싱가포르일본,중국,싱가포르
네덜란드, 독일, 영국네덜란드,독일,영국
미국미국
인증/특허인증/특허
**ISO 9001 인증**: X선 미세분석 및 에너지 분산 X선 형광 시스템의 설계, 제조, 설치 및 서비스에 대한 ISO 9001 인증 보유. 이는 제품 품질 및 서비스 신뢰성에 대한 국제 표준 준수.**ISO9001인증**:X선미세분석및에너지분산X선형광시스템의설계,제조,설치및서비스에대한ISO9001인증보유.이는제품품질및서비스신뢰성에대한국제표준준수.
**NPAR(Neighbor Pattern Averaging & Reindexing) EBSD 루틴 특허**: EBSD 맵에서 개별 픽셀의 인덱싱 품질을 향상시키는 NPAR 기술에 대한 미국 특허(US-9791390-B2) 획득. 이 기술은 저품질 회절 패턴을 제공하는 샘플의 분석 성능을 크게 개선.**NPAR(NeighborPatternAveraging&Reindexing)EBSD루틴특허**:EBSD맵에서개별픽셀의인덱싱품질을향상시키는NPAR기술에대한미국특허(US-9791390-B2)획득.이기술은저품질회절패턴을제공하는샘플의분석성능을크게개선.
**파장 분산 분광법 관련 특허**: 향상된 수집 효율 및 해상도를 위한 파장 분산 분광법 장치 및 시스템에 대한 특허(US-20200200691-A1) 보유.**파장분산분광법관련특허**:향상된수집효율및해상도를위한파장분산분광법장치및시스템에대한특허(US-20200200691-A1)보유.
**Orbis Micro-XRF 시스템 특허**: 동축 X선 광학 및 샘플 뷰를 통합하는 전동 터렛 디자인에 대한 특허 보유. 이는 샘플 타겟팅 정확도를 최적화하고 빔 방해 및 그림자 효과를 제거하는 데 기여.**OrbisMicro-XRF시스템특허**:동축X선광학및샘플뷰를통합하는전동터렛디자인에대한특허보유.이는샘플타겟팅정확도를최적화하고빔방해및그림자효과를제거하는데기여.
**에너지 분산 X선 분광계 특허**: 전자 현미경과 결합하여 사용되는 에너지 분산 X선 분광계에 대한 특허(US5065020A) 보유.**에너지분산X선분광계특허**:전자현미경과결합하여사용되는에너지분산X선분광계에대한특허(US5065020A)보유.
기업 소개
기업 위치
5794 W Las Positas Blvd, Pleasanton, CA 94588, USA
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기업 기본 정보
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