시냅스이미징(주)
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Wafer 검사기
모델명
시리즈
Semiconductor
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제품 상세 설명
본 제품은 Wafer CELL 표면의 이물, Broken, Chip-Out, Scratch, PAD Mark, Discolor 불량 등을 자동으로 검사하는 광학식 검사장치 이다.
