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CIS Inspection System

모델명

시리즈

Semiconductor


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제품 상세 설명

CIS Sensor & Glass Inspection 

▪ Inspection Item
  - Glass Top & Bottom Pit, Dent, Particle, Contamination, Scratch, Glass chipping

ATI, Advanced Technology CIS Inspection System ACIS-1200 Series

 

- Glass Top Defect Photo

ATI, Advanced Technology CIS Inspection System ACIS-1200 Series 1

 

- Glass BTM Defect Photo

ATI, Advanced Technology CIS Inspection System ACIS-1200 Series 2

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