에이티아이
1/1
Wafer Inspection System
모델명
시리즈
Semiconductor
구매 안내
아래는 참고용 정보이므로 세부 조건은 반드시 제조사/판매자에게 문의 바랍니다.
결제 방법
제조사/판매자에게 문의 바랍니다.
납기 정보
제조사/판매자에게 문의 바랍니다.
배송 정보
제조사/판매자에게 문의 바랍니다.
원산지
제조사/판매자에게 문의 바랍니다.
제품 상세 설명
Wafer Macro Inspection
▪ High throughput with dual lens system
▪ Chip inspection after sawing
▪ Kerf inspection
▪ Advanced D2D algorithm using golden die extracted from neighboring 4 dies
▪ Verifying review module included
▪ Self-developed lens for wide field of view and good resolution
▪ Real time auto focusing module adopted
▪ Optional IR inspection to inspect defects, cracks and chippings inside silicon.
